アドバンテスト、次世代メモリIC向けテストハンドラ「M6245」を発表

　

　アドバンテストは12月1日、次世代のDDRやフラッシュメモリなど、先端メモリICのテスト効率を最大限に高めたテストハンドラ「M6245」を発表した。

　同装置は、Visual Alignment機能を搭載しており、ボールピッチ0.3mm以下のファインピッチデバイスを高スループットでハンドリングする。位置合わせはキャリブレーションにより自動で行うため、ハンドラ使用時のセットアップ時間の短縮が可能である。さらに、独自の「Dual-Fluid」技術を核とした温度制御能力により、被測定デバイスの温度を-20℃～100℃の範囲では±1℃の精度でコントロール可能となっている。また、-40℃～20.1℃、および100.1℃～125℃の範囲では精度±2℃でコントロールできる。

　この他、1回目のテストでFail判定した被測定デバイスを自動で再テストする機能や、ネットワークを通じて稼働状況をリアルタイムでモニタリングする機能を備えており、デバイス試験の生産性向上に大きく寄与するとしている。

　なお、「M6245」の出荷開始は2015年3月を予定している。

　テストハンドラ「M6245」