セリーヌ tシャツ パロディセリーヌ tシャツ コピーセリーヌ tシャツ コーデ 忍者ブログ

仕事で役立つ人気ビジネスアプリおすすめ!

ビジネスマン必見!おすすめのビジネス管理ツールアプリを、独自のランキングと口コミでピックアップ!縦横無尽に使いこなせば、仕事の効率アップ間違いなし!
[5622]  [5621]  [5620]  [5619]  [5618]  [5617]  [5616]  [5615]  [5614]  [5613]  [5612

[PR]

×

[PR]上記の広告は3ヶ月以上新規記事投稿のないブログに表示されています。新しい記事を書く事で広告が消えます。

AMAT、先端メモリデバイス向け高度パターニングソリューションを開発

AMAT、先端メモリデバイス向け高度パターニングソリューションを開発 

 Applied Materials(AMAT)は11月10日(米国時間)、Samsung Electronicsおよび韓国のフォトレジスト剥離装置メーカーPSKの協力を得て、次世代NAND/DRAM製造向けの高度パターニングソリューションを開発したと発表した。

 同ソリューションは同社のCVD装置「Applied Producer XP Precision」によって独自のハードマスク「Saphira APF(advanced patterning film)」を成膜するプロセスと、「PSK OMNIS Asher」を利用してこれを除去するプロセスから構成されており、高アスペクト比が求められる次世代メモリのパターニング要件を満たすことが確認されたという。

 なお同社は、Saphira APFハードマスクを除去する独自プロセスに伴う独占的ライセンスをPSKに付与したという。また、同ソリューションはすでに市場にて入手可能になっているという。

 Saphira APFハードマスクの成膜に用いられるApplied Producer XP Precision CVD装置

PR
Submit Comment
name
title
color
mail
URL
comment
password   Vodafone絵文字 i-mode絵文字 Ezweb絵文字
マレーシアでのリゾート滞在は一味違いました HOME 福島原発の汚染水流出、東電に再発防止と情報公開要請=林農水相
HN:
上原健二
性別:
非公開
RSS
P R
忍者ブログ [PR]
Template by repe